萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電
簡要描述:萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電是是指對(duì)電子元器件的老化特性進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備。它通常由高低溫試驗(yàn)室和環(huán)境試驗(yàn)箱組成,可以模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存和使用過程中可能遇到的高溫、低溫、潮濕等環(huán)境條件,以評(píng)估產(chǎn)品的耐久性和可靠性。開始測(cè)試:啟動(dòng)高低溫試驗(yàn)箱,開始進(jìn)行溫度和濕度循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試過程中,不斷記錄測(cè)試數(shù)據(jù),包括測(cè)試時(shí)間、溫度、濕度等參數(shù),并觀察待測(cè)電子元器件的狀態(tài)。結(jié)束測(cè)試:在測(cè)試結(jié)束后
- 產(chǎn)品型號(hào):DR-H201
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-10-13
- 訪 問 量:382
萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電
萍鄉(xiāng)光伏組件可程式高低溫箱節(jié)能省電
江西電子元件老化測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱
溫濕度范圍 | 溫度范圍0℃/20℃/-40℃/-60℃/-70℃/+100℃(150℃):10%RH-98% | ||||
溫濕度波動(dòng)度 | ±0.3℃-0.5℃;±2.5%RH | ||||
溫濕度偏差 | ±0.5℃-2℃;±3RH(>75%RH);±5RH(>75%RH); | ||||
控制器解析精度 | ±0.01℃,±0.01%RH | ||||
升溫/降溫時(shí)間 | 常溫-150℃約40min;常溫-零下40℃約55min。 | ||||
重量 | 250KG | 300KG | 400KG | 600KG | 700KG |
觸摸屏高低溫濕熱試驗(yàn)箱材料 | 內(nèi)壁 | SUS#304不銹鋼2B面板 | |||
外殼 | 高強(qiáng)度冷軋鋼板雙面精粉烤漆 | ||||
系統(tǒng)風(fēng)路循環(huán) | 玻璃纖維+聚氨酯發(fā)泡 | ||||
系統(tǒng) | 方式 | 離心風(fēng)機(jī)-寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)(上出下進(jìn)) | |||
制冷方式 | 單級(jí)機(jī)械壓縮式制冷(或二元復(fù)疊式制冷) | ||||
制冷機(jī) | 單全封閉活塞式法國泰康壓縮機(jī) | ||||
制冷劑 | 環(huán)保冷媒(R23+404A) | ||||
冷凝方式 | 風(fēng)冷或水冷 | ||||
加熱方式 | 合金電熱絲式加熱器 | ||||
加濕器 | 半封閉式蒸汽加濕(鍋爐式) | ||||
供水方式 | 供全自動(dòng)循環(huán)供水(水質(zhì)要求電阻率>500M) | ||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 觀察窗(雙層中空鋼化玻璃)1個(gè);測(cè)試孔50mm(位于左邊)1個(gè);樣品架2層;箱內(nèi)照明燈(熒光燈)1個(gè);紗布1包;掛8個(gè);保險(xiǎn)絲2個(gè);小腳輪4個(gè);電源線1條。 | ||||
安全內(nèi)置 | 無熔絲開關(guān)、防干燒裝置、壓縮機(jī)超壓、過熱、過流保護(hù)、超溫保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、缺水保護(hù)、保險(xiǎn)線,緊急停車等保護(hù)裝置 |
測(cè)試設(shè)備:高低溫試驗(yàn)箱
測(cè)試對(duì)象:光伏組件、電子元器件
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1-2008
測(cè)試要求:模擬不同的溫度環(huán)境,測(cè)試電子元器件的老化特性
測(cè)試過程:
確認(rèn)測(cè)試參數(shù):將測(cè)試參數(shù)設(shè)置為-40℃~85℃,濕度為20%~90%RH,并將測(cè)試時(shí)間設(shè)置為48小時(shí)。
設(shè)備準(zhǔn)備:將待測(cè)電子元器件放置于試驗(yàn)箱中,并將試驗(yàn)箱溫度和濕度設(shè)定為測(cè)試參數(shù)所需的值。
開始測(cè)試:啟動(dòng)高低溫試驗(yàn)箱,開始進(jìn)行溫度和濕度循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試過程中,不斷記錄測(cè)試數(shù)據(jù),包括測(cè)試時(shí)間、溫度、濕度等參數(shù),并觀察待測(cè)電子元器件的狀態(tài)。
結(jié)束測(cè)試:在測(cè)試結(jié)束后,將待測(cè)電子元器件取出,并進(jìn)行外觀和性能檢查。
測(cè)試結(jié)果:
在測(cè)試過程中,待測(cè)電子元器件經(jīng)過高低溫循環(huán)測(cè)試后,經(jīng)外觀和性能檢查后發(fā)現(xiàn):
外觀無明顯損傷或變形。
元器件性能穩(wěn)定,無明顯變化。
結(jié)論:
通過高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試后,待測(cè)電子元器件經(jīng)過長時(shí)間高低溫循環(huán)測(cè)試后,未發(fā)現(xiàn)其老化特性明顯變化,其可靠性和穩(wěn)定性得到了有效驗(yàn)證,符合GB/T 2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)的要求。